紫外試驗(yàn)箱/紫外老化箱的陷阱電荷密度
首先紫外試驗(yàn)箱/
紫外老化箱提出一種兩能級(jí)水平的電荷入陷和脫陷動(dòng)力學(xué)模型, 提取了對(duì)應(yīng)的陷阱能級(jí)和電荷陷阱電荷密度參數(shù)。結(jié)合PEA空間電荷測(cè)量及數(shù)值計(jì)算結(jié)果,確定了不含添加劑的LDPE樣品中存在的兩種水平的陷阱能級(jí)分別為:較淺陷阱能級(jí)0.88 eV和較深陷阱能級(jí)1.01 eV。同時(shí),利用模型初步驗(yàn)證了老化后的材料深陷阱能級(jí)的增加和對(duì)應(yīng)的陷阱電荷密度的變化,證實(shí)了材料老化產(chǎn)生了一定水平的更深能級(jí)的陷阱。因此,模型中參數(shù)可考慮作為材料老化診斷的特征參量。
通過比較直流電壓下不同電老化程度低密度聚乙烯的空間電荷衰減特性,并借助于提出的多能級(jí)陷阱模型,獲得了能夠反映老化程度的空間電荷陷阱參數(shù):
①去壓后,不同電老化樣品的總電荷衰減規(guī)律均為開始快速衰減,隨后電荷衰減速度隨著電老化程度增大而減緩;
② 隨著電老化程度的增大,陷阱深度為0.8 eV對(duì)應(yīng)的陷阱電荷密度減少;陷阱深度為0.85 eV對(duì)應(yīng)的陷阱電荷密度增大;陷阱深度大于0.95 eV后,陷阱電荷密度分布的峰值往陷阱深度高的方向移動(dòng)。電老化使材料內(nèi)部的陷阱從較淺陷阱轉(zhuǎn)化為較深陷阱。
③紫外試驗(yàn)箱/
紫外老化箱不同電老化樣品單位體積內(nèi)的總陷阱電荷密度近似相等,但電老化改變了材料體內(nèi)的陷阱電荷密度分布,可考慮利用不同陷阱深度下的陷阱電荷密度分布信息來表征電老化程度。
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